IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-17: Techniques d'essai et de mesure - Essai d'immunité à l'ondulation résiduelle sur entrée de puissance à courant continu
Définit les méthodes d'essai d'immunité aux ondulations résiduelles appliquées à l'entrée de l'alimentation en courant continu des matériels électriques ou électroniques. S'applique aux entrées de puissance en courant continu basse tension des matériels alimentés par des systèmes redresseurs externes ou par des batteries qui sont en charge. Cette norme définit - la forme d'onde de la tension d'essai; - une gamme de niveaux d'essai; - le générateur d'essai; - l'installation d'essai; - la procédure d'essai. Cette version consolidée comprend la première édition (1999), son amendement 1 (2001) et son amendement 2 (2008). Il n'est donc pas nécessaire de commander les amendements avec cette publication.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
33.100.20
Statut:
Publié
Date de Publication:
2009-01-27
Numéro Standard:
IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV