IEC 61788-26:2020

Supraconductivité - Partie 26: Mesurage du courant critique - Courant critique continu des composites supraconducteurs de RE-Ba-Cu-O
L’IEC 61788-26:2020 spécifie une méthode d'essai pour la détermination du courant critique continu des échantillons de composites supraconducteurs RE (terre rare)-Ba-Cu-O (REBCO) courts en forme de ruban plat et rectiligne. Le présent document s'applique aux échantillons d’essai d'une longueur inférieure à 300 mm et d'une superficie de section rectangulaire de 0,03 mm2 à 7,2 mm2, ce qui correspond aux rubans d’une largeur de 1,0 mm à 12,0 mm et d’une épaisseur de 0,03 mm à 0,6 mm. Cette méthode est destinée à être utilisée avec des échantillons de supraconducteurs caractérisés par un courant critique inférieur à 300 A et des valeurs n supérieures à 5 dans les conditions d’essai normalisées: l’échantillon d’essai est immergé dans un bain d’azote liquide à pression ambiante sans champ magnétique externe pendant l’essai. Le présent document spécifie les écarts par rapport à cette méthode d’essai qui sont admis dans les essais individuels de série, ainsi que d'autres restrictions spécifiques.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
17.220.20; 19.080; 29.050
Statut:
Publié
Date de Publication:
2020-06-10
Numéro Standard:
IEC 61788-26:2020