IEC 63202-1:2019

l'IEC 63202-1:2019 décrit les procédures pour la mesure de la dégradation induite par la lumière (LID, light-induced degradation) des cellules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin sous éclairement solaire simulé. L'amplitude de la dégradation induite par la lumière dans une cellule photovoltaïque au silicium cristallin est déterminée en comparant la puissance de sortie maximale aux conditions normales d’essai ((STC, standard test conditions) avant et après l'exposition à un éclairement solaire simulé, à une température et un éclairement spécifiés. L'objet du présent document est de fournir des informations sur la dégradation induite par la lumière des cellules photovoltaïques normalisées, afin d'aider les fabricants de modules photovoltaïques à réduire le plus possible la désadaptation entre les cellules à l'intérieur du même module, augmentant ainsi au maximum le rendement de puissance.