IEC 62951-2:2019

L’IEC 62951-2:2019 spécifie les termes, définitions, symboles, configurations et méthodes d’évaluation pouvant être utilisés pour évaluer et déterminer les caractéristiques de performance des dispositifs à transistors en couche mince (TFT) souples. Le présent document spécifie les méthodes d’essai et les paramètres caractéristiques permettant d’évaluer précisément, dans le cadre d’une utilisation pratique, la performance et la fiabilité des dispositifs TFT souples soumis à une contrainte de courbure.