IEC 62951-4:2019

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 4: Evaluation de la fatigue pour les couches minces conductrices souples sur les substrats pour dispositifs à semiconducteurs souples
L’IEC 62951-4:2019 spécifie une méthode d’évaluation des propriétés de fatigue en flexion des couches souples conductrices et des substrats souples pour l'application à des dispositifs semiconducteurs souples. Les couches comprennent toute couche déposée ou collée sur un substrat souple non conducteur telle qu’une couche métallique mince, une électrode conductrice transparente et une couche de silicium mince utilisée pour des dispositifs à semiconducteurs souples. L'évaluation porte sur les comportements électriques et mécaniques des couches sur les substrats. Les méthodes d’essai de fatigue comprennent l’essai de fatigue en flexion dynamique et l’essai de fatigue en flexion statique.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
31.080.99
Statut:
Publié
Date de Publication:
2019-02-26
Numéro Standard:
IEC 62951-4:2019