IEC 62047-10:2011
La CEI 62047-10:2011 spécifie une méthode d'essai de compression utilisant la technique des micro-piliers destinée à mesurer les propriétés de compression des matériaux des MEMS avec une précision et une répétabilité élevées et un effort modéré pour la fabrication des éprouvettes. La relation contrainte-déformation de compression uniaxiale d'une éprouvette est mesurée ce qui permet ainsi d'obtenir le module de compression et la limite d'élasticité. La présente norme est applicable aux matériaux métalliques, céramiques, et en polymères. Le contenu du corrigendum de février 2012 a été pris en considération dans cet exemplaire.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
31.080.99
Statut:
Publié
Date de Publication:
2011-07-25
Numéro Standard:
IEC 62047-10:2011