Dielectric and resistive properties of solid insulating materials - Part 3-4: Determination of resis...
IEC 62631-3-4:2019 covers procedures for the determination of insulation resistance and volume resistivity of insulating materials by applying DC-voltage and temperatures up to 800 °C. The typical application materials include high temperature mica plate and alumina ceramics.
This edition of IEC 62631-3-4 cancels and replaces IEC 60345 “Method of test for electrical resistance and resistivity of…
Propriétés diélectriques et résistives des matériaux isolants solides - Partie 3-4: Détermination de...
L'IEC 62631-3-4:2019 couvre les procédures de détermination de la résistance d'isolement et de la résistivité transversale des matériaux isolants en appliquant une tension continue et des températures jusqu'à 800°C. Les matériaux d'application classiques incluent les plaques de mica et les céramiques d'alumine haute température.
La présente édition de l'IEC 62631-3-…
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
IEC 60749-17:2019 is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to non-ionizing energy loss (NIEL) degradation. The test described herein is applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices and is intended for military- and aerospace-related applications. It is a destructive test.
This edition includes the following significant technical changes with…
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradi...
L’IEC 60749-17:2019 est réalisé pour déterminer la sensibilité des dispositifs à semiconducteurs à la dégradation par perte d’énergie non ionisante (NIEL, Non-Ionizing Energy Loss). L’essai décrit dans le présent document s’applique aux circuits intégrés et aux dispositifs discrets à semiconducteurs, et est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s’agit d’un essai…
3D display devices - Part 12-2: Measuring methods for stereoscopic displays using glasses - Motion b...
IEC 62629-12-2:2019 specifies the measuring methods of motion artifacts for stereoscopic displays using glasses. This document is applicable to stereoscopic displays using glasses, which consist of transmissive type active matrix liquid crystal display modules (without a post image processing).
Dispositifs d'affichage 3D - Partie 12-2 : Méthodes de mesure pour les écrans stéréoscopiques u...
L'IEC 62629-12-2:2019 spécifie les méthodes de mesure des artéfacts de mouvement pour les écrans stéréoscopiques utilisant des lunettes. Le présent document s’applique aux écrans stéréoscopiques utilisant des lunettes, qui consistent en des modules d'affichage à cristaux liquides à matrice active de type transmissif (sans post-traitement d’image).
