Environmental testing - Part 2-69: Tests - Test Te/Tc: Solderability testing of electronic component...
IEC 60068-2-69:2017+A1.2019 outlines test Te/Tc, the solder bath wetting balance method and the solder globule wetting balance method to determine, quantitatively, the solderability of the terminations. Data obtained by these methods are not intended to be used as absolute quantitative data for pass–fail purposes. The procedures describe the solder bath wetting balance method and the solder…
Essais d'environnement - Partie 2-69: Essais - Essai Te/Tc : Essai de brasabilité des composant...
L'IEC 60068-2-69:2017+A1:2019 spécifie l'essai Te/Tc, la méthode de la balance de mouillage au bain de brasure et la méthode de la balance de mouillage à la goutte de brasure, pour déterminer quantitativement la brasabilité des sorties. Ces méthodes ne servent pas à fournir des données quantitatives absolues utilisées dans le cadre d'acception ou de rejet.
Les modes opératoires…
Colorimetry — Part 4: CIE 1976 L*a*b* colour space
This document specifies a method of calculating the coordinates of the CIE 1976 L*a*b* colour space, including correlates of lightness, chroma and hue. It includes two methods for calculating Euclidean distances in this space to represent the perceived magnitude of colour differences.
This document is applicable to tristimulus values calculated using colour-matching functions of the CIE 1931…
Colorimétrie — Partie 4: Espace chromatique L*a*b* CIE 1976
Le présent document fixe une méthode de calcul des coordonnées de l'espace chromatique L*a*b* CIE 1976 ainsi que des correspondants de clarté, de chroma et de teinte. Il donne deux méthodes de calcul de la distance euclidienne dans cet espace, représentant la valeur perçue des différences de couleur.
Le présent document est applicable aux composantes trichromatiques calculées en utilisant…
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for plasma resistance o...
This document specifies a test method for plasma resistance of ceramic components in semiconductor manufacturing equipment. It is applicable to ceramic components of plasma-resistant components in dry etching chambers used in semiconductor manufacturing.
Expression of performance of gas analyzers - Part 2: Measuring oxygen in gas utilizing high-temperat...
IEC 61207-2:2019 applies to all aspects of analyzers using high-temperature electro¬chemical sensors for the measurement of oxygen in gas. It applies to in-situ and extractive analyzers and to analyzers installed indoors and outdoors.
The object of this part is:
– to specify the terminology and definitions related to the functional performance of gas analyzers, utilizing a high-temperature…
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs de gaz - Partie 2: Mesure de l'oxygène...
IEC 61207-2:2019 s’applique à tous les aspects des analyseurs utilisant des capteurs électrochimiques à haute température pour la mesure de l’oxygène contenu dans le gaz. Elle s’applique aux analyseurs in situ et extractifs, ainsi qu’aux analyseurs installés à l’intérieur et à l’extérieur.
La présente partie a pour objet:
– de spécifier la terminologie et les définitions relatives aux…
