ISO 16795:2024

Le présent document spécifie une méthode applicable à la détermination de la teneur en Gd2O3 dans les pastilles de UO2 par spectrométrie à fluorescence X. La méthode de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WD-XRF) ou la méthode de fluorescence X à dispersion d’énergie (ED-XRF) est applicable. Dans le présent document, la méthode appliquée est la technique WD-XRF utilisant la raie Lα du Gd. Cette méthode a été testée pour des fractions massiques en Gd2O3 allant de 2 % à 10 %.