ISO 25178-607:2019
Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage
OEN:
ISO
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
17.040.20
Statut:
Publié
Date de Publication:
2019-03-04
Numéro Standard:
ISO 25178-607:2019