IEC 63287-2:2023

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 2: Concept de profil de mission

L’IEC 63287-2:2023 fournit des lignes directrices pour l'élaboration de plans de qualification de la fiabilité à l’aide du concept de profil de mission, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prévue du produit. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.

OEN:

IEC

Langue:

French

Code(s) de l'ICS:

31.080.01

Statut:

Publié

Date de Publication:

2023-03-28

Numéro Standard:

IEC 63287-2:2023