IEC 63284:2022

Dispositifs à semiconducteurs - Méthode d’essai de fiabilité par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium
L'IEC 63284:2022 couvre le protocole d'exécution d'une procédure de contrainte et une méthode d'essai correspondante, en vue d'évaluer la fiabilité des transistors de puissance à base de nitrure de gallium (GaN) par la commutation sur charge inductive, en particulier la contrainte de commutation dure.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
31.080.30
Statut:
Publié
Date de Publication:
2022-04-20
Numéro Standard:
IEC 63284:2022