IEC 60747-5-8:2019

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-8 : Dispositifs optoélectroniques - Diodes électroluminescentes - Méthode d’essai des efficacités optoélectroniques des diodes électroluminescentes
L’IEC 60747-5-8:2019 spécifie la terminologie et les méthodes de mesure des efficacités des puces ou des boîtiers de diodes électroluminescentes (DEL) sans phosphore. Les DEL blanches destinées aux applications d’éclairage sont exclues de la présente partie de l’IEC 60747. Les méthodes de mesure de l’efficacité énergétique (PE), de l’efficacité quantique externe (EQE), de l’efficacité de tension (VE) et de l’efficacité d’extraction de lumière (LEE) sont définies dans la présente partie. Pour mesurer le LEE, les données de mesure de l’efficacité quantique externe (IQE) sont utilisées, dont la méthode de mesure est discutée dans l'IEC 60747-5-9 et l'IEC 60747-5-10. Concernant l’efficacité d’injection (IE) et l’efficacité radiative (RE), seules leurs définitions sont indiquées.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
31.080.99
Statut:
Publié
Date de Publication:
2019-11-12
Numéro Standard:
IEC 60747-5-8:2019