IEC 60749-4:2017

L’IEC 60749-4:2017 décrit un essai de contrainte de température et d’humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) clarification des exigences relatives à la température, à l’humidité relative et à la durée d’exposition, détaillées dans le Tableau 1; b) ajout de recommandations suggérant de placer une ou des résistances dans le montage d’essai, afin d’éviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis à essai (DUT, Device Under Test); c) spécification d’une autorisation d’extension du temps d’établissement des conditions d’essai ou du temps de retour à la contrainte.