IEC 60749-18:2019

L’IEC 60749-18:2019 présente une procédure d’essai permettant de définir les exigences pour soumettre à essai des circuits intégrés à semiconducteurs sous boîtier et des dispositifs discrets à semiconducteurs, concernant les effets des rayonnements ionisants (dose totale) provenant d’une source de rayons gamma au cobalt-60 (60Co). D’autres sources de rayonnements appropriées peuvent être utilisées. Le présent document ne concerne que les irradiations continues et ne s’applique pas aux irradiations pulsées. Il est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s’agit d’un essai destructif. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: - mises à jour apportées aux paragraphes afin de mieux aligner la méthode d’essai avec la méthode 1019 du document MIL-STD 883J, comprenant l’utilisation de l’essai de sensibilité accrue au faible débit de dose (ELDRS); - ajout d’une bibliographie, comprenant les normes ASTM correspondant à la présente méthode d’essai.