IEC 60147-0F:1982

Complément F - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 0: Généralités et terminologie

OEN:

IEC

Langue:

French

Code(s) de l'ICS:

31.080.10

Statut:

Annulée

Date de Publication:

1981-12-31

Numéro Standard:

IEC 60147-0F:1982