IEC 62226-3-1:2007/AMD1:2016

Amendement 1 - Exposition aux champs électriques ou magnétiques à basse et moyenne fréquence - Méthodes de calcul des densités de courant induit et des champs électriques induits dans le corps humain - Partie 3-1: Exposition à des champs électriques - Modèles analytiques et numériques 2D
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
17.220.20
Statut:
Publié
Date de Publication:
2016-10-06
Numéro Standard:
IEC 62226-3-1:2007/AMD1:2016