IEC 62226-3-1:2007/AMD1:2016

Amendement 1 - Exposition aux champs électriques ou magnétiques à basse et moyenne fréquence - Méthodes de calcul des densités de courant induit et des champs électriques induits dans le corps humain - Partie 3-1: Exposition à des champs électriques - Modèles analytiques et numériques 2D

OEN:

IEC

Langue:

French

Code(s) de l'ICS:

17.220.20

Statut:

Publié

Date de Publication:

2016-10-06

Numéro Standard:

IEC 62226-3-1:2007/AMD1:2016