IEC TR 62866:2014
IEC TR 62866:2014 décrit dans le détail l'histoire de la dégradation des cartes à circuits imprimés provoquée par la migration électrochimique, la méthode de mesure, l'observation de la défaillance et les remarques relatives aux essais.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
31.180
Statut:
Publié
Date de Publication:
2014-05-06
Numéro Standard:
IEC TR 62866:2014