IEC 60747-14-1:2010

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 14-1: Capteurs à semiconducteurs - Spécification générique pour les capteurs
La CEI 60747-14-1:2009 décrit des points généraux concernant les spécifications pour capteurs, qui sont le fondement des spécifications données dans d'autres parties de cette série pour divers types de capteurs. Les capteurs décrits dans cette norme sont essentiellement constitués de matériaux semi-conducteurs; cependant, les indications figurant dans la présente norme sont également applicables aux capteurs utilisant des matériaux autres que semiconducteurs, comme par exemple, des matériaux diélectriques et ferroélectriques. Les modifications principales par rapport à l'édition précédente sont les suivantes: a) Modification du titre, antérieurement "Capteurs à semiconducteurs - Généralités et classification" remplacé par "Capteurs à semiconducteurs - Spécification générique pour les capteurs"; b) L'Article 3 a été divisé en trois Articles 3, 4 et 5; c) Ajouts de nouveaux termes de la CEI 60747-14-5; d) Ajout d'un nouvel Article relatif aux Procédures d'assurance de la qualité; e) Ajout d'une Bibliographie; f) Ajout d'une Annexe relative à la procédure d'échantillonnage.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
31.080.01
Statut:
Publié
Date de Publication:
2010-01-20
Numéro Standard:
IEC 60747-14-1:2010