IEC 62007-2:1997+AMD1:1998 CSV

Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 2: Méthodes de mesure

Décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs utilisés dans le domaine des systèmes et sous-systèmes à fibres optiques. Cette version consolidée comprend la première édition (1997) et son amendement 1 (1998). Il n'est donc pas nécessaire de commander l'amendement avec cette publication.

OEN:

IEC

Langue:

French

Code(s) de l'ICS:

31.080.01; 31.260; 33.180.01

Statut:

Révisé

Date de Publication:

1999-02-25

Numéro Standard:

IEC 62007-2:1997+AMD1:1998 CSV