IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans les guides d'onde TEM
La présente partie de la CEI 61000 concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM. L'objet de cette norme est de décrire - les caractéristiques des guides d'onde TEM, y compris les gammes de fréquences types et les limites de tailles des appareils en essai; - les méthodes de validation des guides d'onde TEM pour les mesures de CEM; - la définition de l'appareil en essai (c'est-à-dire l'armoire et le câblage de l'appareil en essai); - les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d'émissions rayonnées dans les lignes TEM, et - les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d'immunité rayonnée dans les guides d'onde TEM. Cette norme ne vise pas à spécifier les essais devant s'appliquer à des appareils ou systèmes particuliers. Le but principal de cette partie est de donner une référence de base d'ordre général à tous les comités de produits CEI concernés. Pour les essais d'émission rayonnée, il convient que les comités de produits sélectionnent des limites d'émission et des méthodes d'essai en consultation avec le CISPR. Pour les essais d'immunité rayonnée, les comités de produits restent responsables du choix approprié des essais d'immunité et des limites à appliquer aux matériels de leur domaine d'application. Cette norme décrit des méthodes d'essai qui sont indépendantes de celles de la CEI 61000-4-3. Ces autres méthodes distinctes peuvent être utilisées quand elles sont ainsi spécifiées par les comités de produits, en consultation avec le CISPR et le CE 77. Elle a le statut de publication fondamentale en CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI. Cette version consolidée comprend la première édition (2003) et son amendement 1 (2006). Il n'est donc pas nécessaire de commander l'amendement avec cette publication.
OEN:
IEC
Langue:
French
Code(s) de l'ICS:
33.100.10; 33.100.20
Statut:
Révisé
Date de Publication:
2007-01-30
Numéro Standard:
IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV