IEC 60749-26:2006

Etablit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leu sensibilité aux dommagesou de leur dégradation suite à leur exposition à des déchargesélectrostatiques (DES) sur un modèle decorps humain (HBM). Le but de cette norme est de fournir des résultats d essai de DES HBM fiables et reproductibles de manière que des classifications précises puissent être réalisées. Cette méthode d essai est applicable à tous lesdispositifs à semiconducteurs et elle est classée destructive