IEC 60410:1973

Plans et règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs

Donne des plans et des règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs. Ces plans d'échantillonnage sont applicables notamment, mais d'une manière non limitative, aux contrôles des produits finis, des composants ou matières premières, des opérations (phases d'usinage), des matériels en cours de fabrication, des fournitures en stock, des opérations d'entretien, des informations ou enregistrements et des procédures administratives.

OEN:

IEC

Langue:

French

Code(s) de l'ICS:

21.020; 31.020

Statut:

Annulée

Date de Publication:

1972-12-31

Numéro Standard:

IEC 60410:1973