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IEC 62832-2:2020 specifies detailed requirements for model elements of the Digital Factory framework. It defines the nature of the information provided by the model elements, but not the format of this information.

L'IEC 62832-2:2020 spécifie les exigences détaillées relatives aux éléments de modèles du cadre de l’usine numérique (Digital Factory). Elle définit la nature des informations données par les éléments de modèles, mais pas leur format.

IEC 61326-2-4:2020 specifies more detailed test configurations, operational conditions and performance criteria than IEC 61326-1 for equipment for - insulation monitoring according to IEC 61557-8; - insulation fault location according to IEC 61557-9. This applies to insulation monitoring devices and for equipment for insulation fault location systems permanently or semi-permanently connected…

L’IEC 61326-2-4:2020 spécifie plus en détail que l’IEC 61326-1 les configurations d’essai, les conditions de fonctionnement et les critères de performance pour les équipements pour - le contrôle de l’isolement conforme à l’IEC 61557-8; - la localisation des défauts d’isolement conformes à l’IEC 61557-9. Elle s’applique aux contrôleurs d’isolement et aux dispositifs relatifs aux systèmes de…

IEC 62832-3:2020 specifies rules of the Digital Factory framework for managing information of a production system throughout its life cycle. It also defines how the information will be added, deleted or changed in the Digital Factory by the various activities during the life cycle of the production system.

L'IEC 62832-3:2020 spécifie les règles pour le cadre de l’usine numérique (Digital Factory) destiné à la gestion des informations d'un système de production tout au long de son cycle de vie. Elle définit également la manière dont les informations sont ajoutées, supprimées ou modifiées dans le DigitalFactory par les différentes activités lors du cycle de vie du système de production.

IEC TS 62607:2020 establishes a standardized method to determine the structural key control characteristic – domain size for films consisting of graphene grown by chemical vapour deposition (CVD) on copper by – substrate oxidation. It provides a fast, facile and reliable method to evaluate graphene domains formed on copper foil or copper film for understanding the effect of the graphene…

IEC 63073-1:2020 specifies terminology and test methods for describing the characteristics of SINGLE PHOTON EMISSION COMPUTED TOMOGRAPHY (SPECT) systems designed specifically for tomographic cardiac imaging. This includes dedicated systems or general purpose systems with dedicated sub-systems which are not included in the scope of IEC 61675-2.

L'IEC 63073-1:2020 spécifie la terminologie et les méthodes d'essai relatives à la description des caractéristiques des systèmes de TOMODENSITOMETRIE PAR EMISSION DE PHOTONS SIMPLES (SPECT) conçus spécifiquement pour l’imagerie cardiaque tomographique. Ceci inclut les systèmes dédiés aussi bien que les systèmes génériques équipés de sous-systèmes dédiés qui ne relèvent pas du domaine d…

IEC TS 62607-6-14:2020 establishes a standardized method to determine the structural key control characteristic • defect level for powders consisting of graphene-based material by • Raman spectroscopy. The defect level is derived by the intensity ratio of the D+D′ band and 2D band in Raman spectrum, ID+D′/I2D. • The defect level determined in accordance with this document will be listed as a…