Centre de recherche en nanotechnologie : Élaborer une méthode normalisée pour les mesures nanométriques produites par tomographie dans un microscope électronique à transmission

Les entreprises de nanotechnologie doivent être en mesure de certifier leurs produits à une résolution quasi atomique (environ 1 nm). Elles ont également besoin d’un outil rapide pour effectuer des tests de diagnostic et du dépannage pour les processus de production. Ces dispositifs sont essentiels pour veiller à ce que les entreprises aient un avantage concurrentiel et pour faciliter la circulation des marchandises entre les pays.


La tomographie tridimensionnelle ou la tomographie électronique dans un microscope électronique à transmission (MET) peuvent répondre à ce besoin. La tomographie électronique fournit une image détaillée qui permet de séparer les nanoparticules, de reconnaître la distance entre celles-ci, ainsi que d’en mesurer la taille, voire la rugosité. Toutefois, il n’existait aucune méthode normalisée pour veiller à ce que les images et les mesures produites par tomographie électronique dans un MET soient reproductibles et exactes.


Le CCN a collaboré avec des chercheuses et chercheurs du Centre de recherche en nanotechnologie du Conseil national de recherches Canada (CNRC) à Edmonton pour les aider à élaborer une spécification technique ISO qui offrirait un moyen consigné et reproductible de mesurer quantitativement la forme et le volume des nanoparticules en trois dimensions (avec une résolution spatiale nanométrique à un chiffre dans l’ensemble des trois dimensions).


Cette spécification technique profite à un large éventail de parties prenantes, allant des entreprises qui fabriquent des produits contenant des nanocomposants aux organismes de protection qui souhaitent évaluer la sécurité des produits nanotechnologiques pour notre santé et notre environnement.